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Certification of 100 MM Diameter Silicon Resistivity Srms 2541 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurements

Buch | Softcover
112 Seiten
1999
National Defense University Press,U.S. (Verlag)
978-0-16-058806-8 (ISBN)
12,55 inkl. MwSt
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Erscheint lt. Verlag 1.7.1999
Sprache englisch
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie
ISBN-10 0-16-058806-5 / 0160588065
ISBN-13 978-0-16-058806-8 / 9780160588068
Zustand Neuware
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