Investigation of Magnetic Materials and Semiconductor Nanostructures by Electron Holography

Schwerpunkt dieser Arbeit waren Untersuchungen von magnetischen Materialien und von Halbleiter-Nanostrukturen mittels “off-axis” Elektronenholographie.
Das Grundprinzip dieser Methode beruht auf dem experimentellen Nachweis und der Analyse der Phasenverschiebung der gestreuten Elektronenwelle verursacht durch die Verteilung des elektrischen und magnetischen Feldes im dreidimensionalen Raum. Die Untersuchungen verfolgten zwei unterschiedliche Themen: die Korrelation von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen in FeCo-basierten und Fe-basierten nanokristallinen softmagnetischen Legierungen und die dreidimensionale Abbildung von auf (001) Si-Substraten gewachsenen (Si,Ge)-Inseln.