Test Conference (ITC), 1998 IEEE International
1998
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5095-3 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5095-3 (ISBN)
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This CD-ROM is based on a conference on the testing and total quality of integrated electronic circuits and the assemblies and systems that are based on them. Topics include: dynamic current testing; embedded core testing; MCM systems design; IDDQ testing; and progress on standards and benchmarks.
| Erscheint lt. Verlag | 30.1.1999 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Informatik ► Weitere Themen ► Hardware |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| ISBN-10 | 0-7803-5095-2 / 0780350952 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-5095-3 / 9780780350953 |
| Zustand | Neuware |
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