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Optical Metrology

(Autor)

Buch | Softcover
300 Seiten
1995 | 2nd Revised edition
John Wiley & Sons Ltd (Verlag)
978-0-471-95528-3 (ISBN)
79,50 inkl. MwSt
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Optical metrology - the use of optical techniques for measurement - is a branch of optical and communications engineering under intensive development. This self-contained introduction to the field covers both fundamental theory and practical applications.
Optical metrology, or the use of optical techniques for measurement, has progressed rapidly in recent years. Modern sources of radiation, modulators, beam scanners, photo detectors and the computer-assisted detection and display of information have all contributed to the growing interest in the application of optical technology for the solution of a wide variety of measurement problems. This self-contained introduction to the field covers both fundamental theory and practical applications.

Basics; Gaussian Optics; Interference; Diffraction; Light Sources and Detectors; Holography; Moire Technique; Speckle Methods; Photoelasticity and Polarized Light; Digital Image Processing; Fringe Analysis; Some Other Optical Metrology Techniques; Complex Numbers; Fourier Optics; The Least Squares Error Method.

Erscheint lt. Verlag 31.8.1995
Zusatzinfo Illustrations
Verlagsort Chichester
Sprache englisch
Maße 167 x 243 mm
Gewicht 600 g
Themenwelt Informatik Theorie / Studium Künstliche Intelligenz / Robotik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Optik
Technik Maschinenbau
ISBN-10 0-471-95528-0 / 0471955280
ISBN-13 978-0-471-95528-3 / 9780471955283
Zustand Neuware
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