IEEE International Test Conference
Seiten
2001
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-7169-9 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-7169-9 (ISBN)
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Topics covered include: beyond DC testing at board test; BIST medley; how can we improve IDDQ testing of DSM/VDSM; practical experience with SOC testing; problems for ATE software; lecture series test and repair of large embedded DRAMs; DFT innovations; and novel techniques of fault diagnosis.
| Erscheint lt. Verlag | 1.12.2001 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium |
| Informatik ► Weitere Themen ► CAD-Programme | |
| Informatik ► Weitere Themen ► Hardware | |
| ISBN-10 | 0-7803-7169-0 / 0780371690 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-7169-9 / 9780780371699 |
| Zustand | Neuware |
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