Theory of CMOS Digital Circuits and Circuit Failures (eBook)
590 Seiten
Princeton University Press (Verlag)
978-1-4008-6284-9 (ISBN)
Erscheint lt. Verlag | 14.7.2014 |
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Reihe/Serie | Princeton Legacy Library |
Verlagsort | Princeton |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Mathematik |
Technik | |
Schlagworte | Analogue Electronics • Biasing • bipolar junction transistor • Buffer amplifier • Call gate (Intel) • capacitance • Capacitive coupling • capacitor • Characteristic impedance • Circuit Design • Circuit diagram • circuit switching • CMOS • Common-mode rejection ratio • Computer performance • Contact resistance • Data Transmission • DC bias • Depletion and enhancement modes • dielectric • differential amplifier • Digital Data • Digital electronics • digital signal • digital signal processing • Diode • distortion • Doping (semiconductor) • Dynamic logic (digital electronics) • Electrical Breakdown • Electrical phenomena • Electrical resistivity and conductivity • Electronic Circuit • Emitter-coupled logic • Equivalent Circuit • Extrinsic semiconductor • Failure analysis • field-effect transistor • Frequency mixer • Gain (electronics) • Gate oxide • Impedance Matching • Inductance • input impedance • Insulator (electricity) • Integrated circuit • Integrated Circuit Design • Ionized impurity scattering • Latch (hardware) • Linear Amplifier • logic gate • Logic level • Logic Optimization • Material failure theory • Memory cell (binary) • Memory effect • Negative feedback amplifier • Network analysis (electrical circuits) • Noise (electronics) • Noise measurement • Operational amplifier • Oscillation • output impedance • parasitic capacitance • Passivity (engineering) • polycrystalline silicon • Power Factor • Power Inverter • Power supply • Process variation (semiconductor) • Quantization (signal processing) • Random logic • RC circuit • resistor • Ring Oscillator • semiconductor • Sequential Logic • Series and Parallel Circuits • Signal (electrical engineering) • signal-to-noise ratio • Silicon • Silicon On Insulator • Slew Rate • Technology • Three-dimensional integrated circuit • Threshold Voltage • Timing failure • Transconductance • Transformer • Transistor • Transmission Gate • Transmission Line • Voltage Divider • voltage drop • Voltage Reference • Voltage Regulation • Voltage source • Voltage spike • Wafer (electronics) • waveform |
ISBN-10 | 1-4008-6284-1 / 1400862841 |
ISBN-13 | 978-1-4008-6284-9 / 9781400862849 |
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