At&t Reliability Manual

David J. Klinger, Yoshinao Nakada, Maria A. Menendez (Autoren)

Buch | Hardcover

226 Seiten

1999
Van Nostrand Reinhold Inc.,U.S. (Verlag)
978-0-442-31848-2 (ISBN)

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Partial Contents: Reliability Concepts; Device Reliability; Hazard Rates; Monitoring Reliability; Specific Device Information, and more. Appendixes. 60 illustrations.

Zusatzinfo	XIV, 226 p.
Verlagsort	New York
Sprache	englisch
Maße	178 x 254 mm
Themenwelt	Informatik ► Grafik / Design ► Digitale Bildverarbeitung
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium
ISBN-10	0-442-31848-0 / 0442318480
ISBN-13	978-0-442-31848-2 / 9780442318482
Zustand	Neuware