1996 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
Sispad '96, September 2-4, 1996, Toyo University, Hakusan Campus, Tokyo, Japa
Seiten
1996
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-2745-0 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-2745-0 (ISBN)
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This conference is aimed at providing an opportunity for the presentation and discussion of the recent topics in process, device and circuit modeling for semiconductors. The proceedings contains all papers presented at the conference which are carefully selected by experts in the field. A valuable source and indispensable for all scientists and engineers engaged in research and development in semiconductor devices, the proceedings include a wide range of TCAD algorithms to user interfacesProcess Modeling; Impurity Modeling; Future Device Modeling; Advanced Silicon Device Modeling; Equipment and Topography Modeling; Mesh Generation and Circuit Model
Erscheint lt. Verlag | 31.12.1996 |
---|---|
Zusatzinfo | illustrations |
Verlagsort | Piscataway NJ |
Sprache | englisch |
Maße | 216 x 298 mm |
Gewicht | 408 g |
Themenwelt | Informatik ► Grafik / Design ► Digitale Bildverarbeitung |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
ISBN-10 | 0-7803-2745-4 / 0780327454 |
ISBN-13 | 978-0-7803-2745-0 / 9780780327450 |
Zustand | Neuware |
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