DIAGNOSTIC MEASUREMENTS IN LSI &... (V7) (eBook)

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1991
372 Seiten
World Scientific Publishing Company (Verlag)
978-981-4439-26-8 (ISBN)

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DIAGNOSTIC MEASUREMENTS IN LSI &... (V7) - Andrzej Jakubowski, Wieslaw Marciniak, Henryk M Przewlocki
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This book describes means in improving the technology of LSI/VLSI ICs production. It does so by concentrating on improvements of manufacturing yield and quality of the products by detecting weak points which should be eliminated on the way up the learning curve. The book presents a systematic approach to the problem, covering primarily methods based on the use of test patterns measurements, in both mass production and in research and development activities. The main groups of defects found in IC chips and ways to detect them using test structures are discussed in detail.
Erscheint lt. Verlag 30.4.1991
Reihe/Serie 19910430
Advanced Series In Electrical And Computer Engineering
ADVANCED SERIES IN ELECTRICAL AND COMPUTER ENGRG
Verlagsort Singapore
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik Theorie / Studium
Medizin / Pharmazie Gesundheitsfachberufe
Medizin / Pharmazie Medizinische Fachgebiete Radiologie / Bildgebende Verfahren
Technik
ISBN-10 981-4439-26-6 / 9814439266
ISBN-13 978-981-4439-26-8 / 9789814439268
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