Low-Power Variation-Tolerant Design in Nanometer Silicon (eBook)
XV, 440 Seiten
Springer US (Verlag)
978-1-4419-7418-1 (ISBN)
Design considerations for low-power operations and robustness with respect to variations typically impose contradictory requirements. Low-power design techniques such as voltage scaling, dual-threshold assignment and gate sizing can have large negative impact on parametric yield under process variations. This book focuses on circuit/architectural design techniques for achieving low power operation under parameter variations. We consider both logic and memory design aspects and cover modeling and analysis, as well as design methodology to achieve simultaneously low power and variation tolerance, while minimizing design overhead. This book will discuss current industrial practices and emerging challenges at future technology nodes.
Preface 5
Contents 11
Contributors 13
About the Editors 15
Physics of Power Dissipations and Parameter Variations 16
Variations: Sources and Characterization 17
Power Dissipation 54
Circuit-Level Design Solutions 94
Effect of Variations and Variation Tolerance in Logic Circuits 95
Statistical Design of Integrated Circuits 121
Low-Power and Variation-Tolerant Memory Design 162
Digital Subthreshold for Ultra-Low Power Operation: Prospects and Challenges 195
System-Level Design Solutions 218
Variation-Tolerant Microprocessor Architecture at Low Power 219
Low-Power and Variation-Tolerant Application- Specific System Design 256
Low-Power Adaptive Mixed Signal/RF Circuits and Systems and Self- Healing Solutions 300
Low-Power and Robust Reconfigurable Computing 341
Low-Power Techniques for FPGAs 342
Variation and Aging Tolerance in FPGAs 369
Component-Specific Mapping for Low-Power Operation in the Presence of Variation and Aging 385
Summary 437
Index 439
Erscheint lt. Verlag | 10.11.2010 |
---|---|
Zusatzinfo | XV, 440 p. |
Verlagsort | New York |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Informatik ► Weitere Themen ► CAD-Programme |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
Schlagworte | Design for manufacturing • DFM • EDA • Electronic Design Automation • Integrated Circuit Design • Low Power IC Design • Low Power Logic Design • Low Power Memory Design • Manufacturing Process Variation • Nanometer IC Design • Process Uncertainty • Reliab • Reliability • Reliable IC Design • Temperature-Aware Design |
ISBN-10 | 1-4419-7418-0 / 1441974180 |
ISBN-13 | 978-1-4419-7418-1 / 9781441974181 |
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Größe: 16,7 MB
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