Reliability, Availability and Serviceability of Networks-on-Chip
Seiten
2011
|
2012
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4614-0790-4 (ISBN)
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4614-0790-4 (ISBN)
This book presents an overview of the issues related to the test, diagnosis and fault-tolerance of Network on Chip-based systems. It is the first book dedicated to the quality aspects of NoC-based systems and will serve as an invaluable reference to the problems, challenges, solutions, and trade-offs related to designing and implementing state-of-the-art, on-chip communication architectures.
Introduction.- NoC Basics.- Systems-on-Chip Testing.- NoC Reuse for SoC Modular Testing.- Advanced Approaches for NoC Reuse.- Test and Diagnosis of Routers.- Test and Diagnosis of Communication Channels.- Error Control Coding and Retransmission.- Error Location and Reconfiguration.- Concluding Remarks.
Zusatzinfo | XIII, 209 p. |
---|---|
Verlagsort | New York, NY |
Sprache | englisch |
Maße | 155 x 235 mm |
Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Netzwerke |
Informatik ► Weitere Themen ► CAD-Programme | |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
ISBN-10 | 1-4614-0790-7 / 1461407907 |
ISBN-13 | 978-1-4614-0790-4 / 9781461407904 |
Zustand | Neuware |
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