Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität
Springer Berlin (Verlag)
978-3-540-50051-3 (ISBN)
1. Einleitung.- 1.1. Allgemeine Aufgaben der Testvorbereitung.- 1.2. Fehlermodelle.- 1.3. Spezielle Aufgabenstellungen der Testvorbereitung.- 1.4. Testfreundliche Entwurfsmethoden.- 1.5. Stand der Technik.- 1.6. Ziele der Arbeit.- 2. Struktur kombinatorischer Schaltungen.- 2.1. Schaltung und Strukturgraph.- 2.2. Zerlegung in fanoutfreie Zonen.- 2.3. Spezielle Strukturmerkmale kombinatorischer Schaltungen.- 3. Schnelle Fehlersimulation in kombinatorischen Schaltungen.- 3.1. Grundlagen der Fehlersimulation.- 3.2. Methoden zur Beschleunigung der Fehlersimulation.- 3.3. Mittlerer Rechenzeitaufwand.- 3.4. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 4. Automatische Testmustergenerierung in kombinatorischen Schaltungen.- 4.1. Deterministische Testmustergenerierung als Suchproblem mit finitem Suchraum.- 4.2. Grundlagen und Definitionen.- 4.3. Der deterministische Testmustergenerierungsalgorithmus.- 4.4. Das automatische Testmustergenerierungssystem SOCRATES.- 4.5. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 5. Zusammenfassung und Ausblick.- Vereinbarungen, Formelzeichen und Stichworte.- Anhang: Gharakteristika der Benchmark-Schaltungen.
Erscheint lt. Verlag | 27.7.1988 |
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Reihe/Serie | Informatik-Fachberichte |
Zusatzinfo | IX, 165 S. 2 Abb. |
Verlagsort | Berlin |
Sprache | deutsch |
Maße | 170 x 244 mm |
Gewicht | 310 g |
Themenwelt | Informatik ► Theorie / Studium ► Algorithmen |
Informatik ► Weitere Themen ► Hardware | |
Schlagworte | Algorithmen • Elektrotechnik • Entscheidungsbaum • Implementierung • Komplexität |
ISBN-10 | 3-540-50051-0 / 3540500510 |
ISBN-13 | 978-3-540-50051-3 / 9783540500513 |
Zustand | Neuware |
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