Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme (eBook)

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
eBook Download: PDF
2020 | 1. Aufl. 2020
XXXIII, 639 Seiten
Springer Fachmedien Wiesbaden (Verlag)
978-3-658-22178-2 (ISBN)

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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme - Titu-Marius I. Băjenescu
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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.


Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Erscheint lt. Verlag 3.1.2020
Zusatzinfo XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.
Sprache deutsch
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
Schlagworte Ausfallanalyse • Buch • diskrete Bauelemente • Elektronik • Elektronische Bauelemente • Elektrotechnik • Halbleiter • hochintegrierte Schaltung • Kondensator • memristor • MEMS • Mikroprozessor • Nachrichtentechnik • NEMS • optoelektronische Komponenten • Speichermodul • Test und Testbarkeit • Verpackungstechnologien • Wandler • Zuverlässigkeit
ISBN-10 3-658-22178-X / 365822178X
ISBN-13 978-3-658-22178-2 / 9783658221782
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