Design for Manufacturability with Advanced Lithography (eBook)

, (Autoren)

eBook Download: PDF
2015 | 1st ed. 2016
XI, 164 Seiten
Springer International Publishing (Verlag)
978-3-319-20385-0 (ISBN)

Lese- und Medienproben

Design for Manufacturability with Advanced Lithography - Bei Yu, David Z. Pan
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This book introduces readers to the most advanced research results on Design for Manufacturability (DFM) with multiple patterning lithography (MPL) and electron beam lithography (EBL). The authors describe in detail a set of algorithms/methodologies to resolve issues in modern design for manufacturability problems with advanced lithography. Unlike books that discuss DFM from the product level or physical manufacturing level, this book describes DFM solutions from a circuit design level, such that most of the critical problems can be formulated and solved through combinatorial algorithms.

Introduction.- Layout Decomposition for Triple Patterning.- Layout Decomposition for Other Patterning Techniques.- Standard Cell Compliance and Placement Co-Optimization.- Design for Manufacturability with E-Beam Lithography.- Conclusions and Future Works.-

Erscheint lt. Verlag 28.10.2015
Zusatzinfo XI, 164 p. 100 illus., 91 illus. in color.
Verlagsort Cham
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte design for manufacturability • Design for Manufacturability and Yield • Electron Beam Lithography • Multiple patterning lithography • Nano-CMOS Design for Manufacturability • Triple Patterning Lithography
ISBN-10 3-319-20385-1 / 3319203851
ISBN-13 978-3-319-20385-0 / 9783319203850
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