Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Xiao Liu, Qiang Xu

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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (eBook)

Xiao Liu, Qiang Xu (Autoren)

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2013 | 2013
XV, 108 Seiten
Springer International Publishing (Verlag)
978-3-319-00533-1 (ISBN)

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This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

Erscheint lt. Verlag	12.6.2013
Reihe/Serie	Lecture Notes in Electrical Engineering
Zusatzinfo	XV, 108 p. 59 illus., 38 illus. in color.
Verlagsort	Cham
Sprache	englisch
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Correctness of VLSI Circuits • Design for Debug • Functional Error Detection • Post-silicon Validation • real-time embedded systems • Signal Tracing for Validation
ISBN-10	3-319-00533-2 / 3319005332
ISBN-13	978-3-319-00533-1 / 9783319005331

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Größe: 3,4 MB

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