Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design -  Yu Cao

Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design (eBook)

(Autor)

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2011 | 2011
XV, 173 Seiten
Springer US (Verlag)
978-1-4614-0445-3 (ISBN)
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Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design explains many of the technical mysteries behind the Predictive Technology Model (PTM) that has been adopted worldwide in explorative design research. Through physical derivation and technology extrapolation, PTM is the de-factor device model used in electronic design. This work explains the systematic model development and provides a guide to robust design practice in the presence of variability and reliability issues. Having interacted with multiple leading semiconductor companies and university research teams, the author brings a state-of-the-art perspective on technology scaling to this work and shares insights gained in the practices of device modeling. 
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design explains many of the technical mysteries behind the Predictive Technology Model (PTM) that has been adopted worldwide in explorative design research. Through physical derivation and technology extrapolation, PTM is the de-factor device model used in electronic design. This work explains the systematic model development and provides a guide to robust design practice in the presence of variability and reliability issues. Having interacted with multiple leading semiconductor companies and university research teams, the author brings a state-of-the-art perspective on technology scaling to this work and shares insights gained in the practices of device modeling.

Predictive TechnologyModel for RobustNanoelectronic Design 4
Copyright 5
Foreword 8
Preface 10
Acknowledgements 12
Contents 14
Chapter 1: Introduction 18
Chapter 2: Predictive Technology Model of Conventional CMOS Devices 24
Chapter 3: Predictive Technology Model of Enhanced CMOS Devices 41
Chapter 4: Statistical Extraction and Modeling of CMOS Variability 58
Chapter 5: Modeling of Temporal Reliability Degradation 82
Chapter 6: Modeling of Interconnect Parasitics 96
Chapter 7: Design Benchmark with Predictive Technology Model 119
Chapter 8: Predictive Process Design Kits 134
Chapter 9: Predictive Modeling of Carbon Nanotube Devices 154
Chapter 10: Predictive Technology Model for Future Nanoelectronic Design 178
Index 180

Erscheint lt. Verlag 12.7.2011
Reihe/Serie Integrated Circuits and Systems
Zusatzinfo XV, 173 p.
Verlagsort New York
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik Theorie / Studium
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte Circuit performance analysis • Device and circuit reliability • Device modeling • Electronic Design Automation • Low Power Design • Nanoelectronic design • Predictive Modeling • Process Variability • Technology scaling
ISBN-10 1-4614-0445-2 / 1461404452
ISBN-13 978-1-4614-0445-3 / 9781461404453
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