Defect and Diffusion Forum Vols. 148-149 -

Defect and Diffusion Forum Vols. 148-149

David J. Fisher (Herausgeber)

Buch | Softcover
325 Seiten
1997
Trans Tech Publications Ltd (Verlag)
978-3-908450-98-6 (ISBN)
229,95 inkl. MwSt
  • Titel ist leider vergriffen;
    keine Neuauflage
  • Artikel merken
Journal issue

Characterization of the Defect Structure in Molecular Organic Crystals Using Ultrasonic Measurements
Theoretical Description of RED: From Dynamics of Defects to Rules for Phase Formation
Point Defect Behaviour Resulting from Dopant Diffusions in Silicon
Defects Below Mask Edges in Silicon Induced by Amorphizing Implantations
Transmission Electron Microscopy Study of the Microstructure of a GaN Film Grown on Sapphire by Organometallic Vapor Phase Expitaxy
Acceptor Impurities in Silicion Carbide: Electron Paramagnetic Resonance and Optically Detected Magnetic Resonance Studies
Hydrogen Diffusion Coefficient Dependencies on Hydrogen Contents in PdAg Alloys
Effect of Crystal Defects in FeNiC Alloys on Subsequent Martensitic Transformation

Erscheint lt. Verlag 3.3.1997
Reihe/Serie Defect and Diffusion Forum ; Volumes 148-149
Verlagsort Zurich
Sprache englisch
Maße 170 x 240 mm
Gewicht 700 g
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
ISBN-10 3-908450-98-5 / 3908450985
ISBN-13 978-3-908450-98-6 / 9783908450986
Zustand Neuware
Haben Sie eine Frage zum Produkt?
Mehr entdecken
aus dem Bereich
Wegweiser für Elektrofachkräfte

von Gerhard Kiefer; Herbert Schmolke; Karsten Callondann

Buch | Hardcover (2024)
VDE VERLAG
48,00

von Jan Luiken ter Haseborg; Christian Schuster; Manfred Kasper

Buch | Hardcover (2023)
Carl Hanser (Verlag)
34,99