Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X
24-25 January 2011, San Francisco, California, United States
Seiten
2011
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New ed.
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8465-9 (ISBN)
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8465-9 (ISBN)
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Erscheint lt. Verlag | 15.5.2011 |
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Zusatzinfo | illustrations |
Verlagsort | Bellingham |
Sprache | englisch |
Maße | 152 x 229 mm |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
ISBN-10 | 0-8194-8465-2 / 0819484652 |
ISBN-13 | 978-0-8194-8465-9 / 9780819484659 |
Zustand | Neuware |
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