Modellierung höhenstrahlungsinduzierter Ausfälle in Halbleiterleistungsbauelementen
Seiten
2005
|
1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-4585-6 (ISBN)
Shaker (Verlag)
978-3-8322-4585-6 (ISBN)
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- 19
Reihe/Serie | Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ; 19 |
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Sprache | deutsch |
Maße | 148 x 210 mm |
Gewicht | 236 g |
Einbandart | Paperback |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Mechanik |
Schlagworte | 2005 • Bauelementphysik • Halbleiterphysik • HC/Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik • Höhenstrahlung • Robustheit • Simulation • Technische Universität München |
ISBN-10 | 3-8322-4585-5 / 3832245855 |
ISBN-13 | 978-3-8322-4585-6 / 9783832245856 |
Zustand | Neuware |
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