Fundamental Principles of Engineering Nanometrology -  Richard Leach

Fundamental Principles of Engineering Nanometrology (eBook)

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2009 | 1. Auflage
352 Seiten
Elsevier Science (Verlag)
978-1-4377-7832-8 (ISBN)
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Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a comprehensive overview of engineering metrology and how it relates to micro and nanotechnology (MNT) research and manufacturing. By combining established knowledge with the latest advances from the field, it presents a comprehensive single volume that can be used for professional reference and academic study.
  • Provides a basic introduction to measurement and instruments 
  • Thoroughly presents numerous measurement techniques, from static length and displacement to surface topography, mass and force
  • Covers multiple optical surface measuring instruments and related topics (interferometry, triangulation, confocal , variable focus, and scattering instruments)
  • Explains, in depth, the calibration of surface topography measuring instruments (traceability; calibration of profile and areal surface texture measuring instruments; uncertainties)
  • Discusses the material in a way that is comprehensible to even those with only a limited mathematical knowledge


Richard Leach is a Principal Research Scientist in the Mass & Dimensional Group, Industry & Innovati
Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a comprehensive overview of engineering metrology and how it relates to micro and nanotechnology (MNT) research and manufacturing. By combining established knowledge with the latest advances from the field, it presents a comprehensive single volume that can be used for professional reference and academic study. - Provides a basic introduction to measurement and instruments- Thoroughly presents numerous measurement techniques, from static length and displacement to surface topography, mass and force- Covers multiple optical surface measuring instruments and related topics (interferometry, triangulation, confocal, variable focus, and scattering instruments)- Explains, in depth, the calibration of surface topography measuring instruments (traceability; calibration of profile and areal surface texture measuring instruments; uncertainties)- Discusses the material in a way that is comprehensible to even those with only a limited mathematical knowledge
Erscheint lt. Verlag 3.9.2009
Sprache englisch
Themenwelt Sachbuch/Ratgeber
Naturwissenschaften
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Umwelttechnik / Biotechnologie
ISBN-10 1-4377-7832-1 / 1437778321
ISBN-13 978-1-4377-7832-8 / 9781437778328
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