Ergebnisse zu
CAD-Programm (AutoCAD, CATIA, u.a.)

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
von Alberto Bosio; Luigi Dilillo; Patrick Girard;..
Buch | Softcover
2014 | Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781489983145
109,99 (inkl. MwSt)
in den Warenkorb
  • Versand in 10-14 Tagen
Modeling, Synthesis and Verification
von Daniel D. Gajski; Samar Abdi; Andreas Gerstlauer;..
Buch | Softcover
2014 | Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781489985309
53,49 (inkl. MwSt)
in den Warenkorb
  • Versand in 10-14 Tagen