Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung - Thomas Oeser

Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung

Spektroskopiekurs kompakt

(Autor)

Buch | Softcover
IX, 77 Seiten
2019 | 1. Aufl. 2019
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
978-3-658-25438-4 (ISBN)
14,99 inkl. MwSt

Thomas Oeser bietet in diesem essential eine leicht verständliche Einführung in die Kristallstrukturanalyse durch Röntgenbeugung. Kurz und präzise, strukturiert und gut zu lesen vermittelt er die Grundlagen dieses Analyseverfahrens. Von den Methoden der Röntgenanalytik und den typischen Anwendungsbeispielen der Kristallstrukturanalyse führt der Autor zu einem detaillierten Verständnis der Einkristall-Röntgenstrukturanalyse. Er gibt dafür einen Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter und erläutert damit Strukturlösung und -verfeinerung. Ein Kapitel zu den Symmetrieeigenschaften und der Nomenklatur von Kristallsystemen sowie weiterführende Literatur runden das Buch ab.

Dr. Thomas Oeser ist wissenschaftlicher Mitarbeiter am Organisch-Chemischen Institut der Universität Heidelberg.

Methoden der Röntgenanalytik.- Typische Anwendungsbeispiele der Kristallstrukturanalyse.- Überblick über Grundlagen zur charakteristischen Röntgenstrahlung, Netzebenen sowie dem reziproken Gitter.- Symmetrieeigenschaften und Nomenklatur von Kristallsystemen.- Weiterführende Literatur.

Erscheinungsdatum
Reihe/Serie essentials
Zusatzinfo IX, 77 S. 50 Abb., 20 Abb. in Farbe.
Verlagsort Wiesbaden
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 126 g
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie
Schlagworte charakteristische Röntgenstrahlung • Einkristall-Röntgenstrukturanalyse • Netzebenen • Nomenklatur von Kristallsystemen • Reziprokes Gitter • Röntgenanalytik • Symmetrieeigenschaften von Kristallsystemen
ISBN-10 3-658-25438-6 / 3658254386
ISBN-13 978-3-658-25438-4 / 9783658254384
Zustand Neuware
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